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的物质内，电流可能完全是由正电荷载子形成。例如，在水溶液内，电解质会导电，电流内的正价氢离子（质子）朝着某方向流动，负价的硫酸根离子朝着反方向流动。在电花(spark) 或等离子体内的电流内有电子、正离子、负离子。在半导体内，可以视电流为正值空穴（一个呈电中性的原子，由于少了一个负电的电子，所以那里就会呈现出一个正电性的空位）的流动。这种半导体称为p型半导体。 [4]
三大效应
热效应
导体通电时会发热，把这种现象叫做电流热效应。例如：比较熟悉的焦耳定律：是定量说明传导电流将电能转换为热能的定律。（焦耳定律）
磁效应
电流的磁效应(动电会产生磁)：奥斯特发现：任何通有电流的导线，都可以在其周围产生磁场的现象，称为电流的磁效应。（毕奥-萨法尔定律）
化学效应
电的化学效应主要是电流中的带电粒子（电子或离子）参与而使得物质发生了化学变化。化学中的电解水或电镀等都是电流的化学效应。（法拉*电解定律）

电流、电压、电阻的规律
串联电路（n个用电器串联）：
电流：I总=I1=I2....=In （串联电路中，电路各部分的电流相等）
电压：U总=U1+U2....+Un (总电压等于各部分电压之和）
电阻：R总=R1+R2....+Rn（总电阻等于各部分电阻之和）
并联电路（n个用电器并联）：
电流：I总=I1+I2....+In（并联电路中，干路电流等于各支路电流之和）
电压：U总=U1=U2....=Un（各支路两端电压相等并等于电源电压)
电阻：1/R总=1/R1+1/R2....+1/Rn（总电阻倒数等于各部分电阻倒数之和）。当2个用电器并联时，有以下推导公式：R总=R1R1/（R1+R2）
电阻公式推导方法：
（1）串联：由U总=U1+U2....+Un，得到I总R总=I1R1+I2R2....+InRn
因为串联电路各部分电流相等，即I总=I1=I2....=In，所以得到：

威廉·爱德华·韦伯在电磁学上的贡献是多方面的。他为了
德国物理学家韦伯
德国物理学家韦伯
进行研究，他发明了许多电磁仪器。1841年发明了既可测量地磁强度又可测量电流强度的**电磁学单位的双线电流表；1846年发明了既可用来确定电流强度的电动力学单位又可用来测量交流电功率的电功率表；1853年发明了测量地磁强度垂直分量的地磁感应器。韦伯在建立电学单位的**测量方面卓有成效。他提出了电流强度、电量和电动势的**单位和测量方法；根据安培的电动力学公式提出了电流强度的电动力学单位；还提出了电阻的**单位。韦伯与柯尔劳施合作测定了电量的电磁单位对静电单位的比值，发现这个比值等于3×10^8m/s，接近于光速。
电流表分类
直流电流表
图 磁电系与电动系机构量程的扩张
图 磁电系与电动系机构量程的扩张
(a)分流器;(b)两静圈串联;(c)两静圈并联
直流电流表主要采用磁电系或电动系测量机构(见机械式指示电表测量机构)，这些测量机构的测量基本量是电流，可用来直接测小电流。对于大量值的直流电流，磁电系测量机构要使用分流器，也就是并联电阻。它的作用是将大部分被测电流分流。对约10A以下的电流多采用内附分流器;对更大的电流值，则使用**分流器。它采取四端结构(图a)，具有两个电流端，两个电位端。其电阻值的选择条件为：当标称电流通过该分流器时，其电位端间的电压为45mV或75mV;以量程为45mV或75mV的磁电系毫伏表测此电压值，而表盘上则以电流值刻度。对于电动系测量机构，扩大测量电流量程的方法是：①加粗静圈的导线，同时减

电流互感器的常见故障往往与制造缺陷有关，具体如下：
1)电流互感器的绝缘很厚，有的绝缘包绕松散，绝缘层间有皱折，加之真空处理不良，浸渍不完全而造成含气空腔，从而易引起局部放电故障 [12] 。
2)电容屏尺寸与排列不符合设计要求，
电流互感器故障原因统计
电流互感器故障原因统计 [13]
甚至少放电容屏，电容较板不光滑平整，甚至错位或断裂，使其均压特性破坏。因此，当局部固体绝缘沿面的电场强度达到一定数值时，就会造成局部放电。
上述局部放电的直接后果是使绝缘油裂解，在绝缘层间生成大量的x腊，介损增大。这种放电是有累积效应的，任其发展下去，油中气体分析将可能出现电弧放电的特征。
3)由于绝缘材料不清洁或含湿高，可能在其表面产生沿面放电。这种情况多见于一次端子引线沿垫块表面放电。
4)某些连接松动或金属件电位悬浮将导致火花放电，例如一次绕组支持螺母松动，造成一次绕组屏蔽铝箔电位悬浮，末屏引线接触或焊接不良甚至断线，均会引起此类故障。
5) -次连接夹板、螺栓、螺母松动，末屏接地螺母松动，抽头紧固螺母松动等，均可能使接触电阻增大，从而导致局部过热故障。此外，现场维护管理不当也应引起重视。例如，互感器进水受潮，虽然可能与制造厂的密封结构和密封材料有关，但是